SEMI G52 - 半導体リードフレームのイオン汚染物の測定のための標準測定法(提案) -

Member Price: $155.00
Non-Member Price: $203.00

Volume(s): Packaging
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
SEMI Standards Copyright Policy/License Agreements

Revision: SEMI G52-90 (Reapproved 1104) - Superseded



本測定法は,Global Assembly and Packaging Committeeで技術的に承認されたもので,Japanese Packaging Committeeが直接責任を負うものである。現版は2004723Japanese Regional Standards Committeeにて承認されている。20049月にまずwww.semi.orgで入手可能になり,200411月発行に至る。初版は1990年。




注意: このスタンダードおよび安全ガイドラインはその使用に関連した全ての安全問題を取り扱うことを意図していない。この文書の使用者は,その責任において,適切な安全および健康上実施すべき事柄を確立し,また使用前に法規制やその他の制限への適用性を判断するものである。


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