SEMI G55 - リードフレーム銀めっき光沢度の測定方法

Volume(s): Packaging
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract

本スタンダードは,global Assembly & Packaging Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は201171日,global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。20118月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は1993年発行。前版は200411月発行。

 

注意: 本文書は,編集上の修正を伴い再承認された。

 

用途

この測定法は,サプライヤではプロセスコントロールや出荷検査,ユーザ側では受け入れ検査に使用される。

 

Referenced SEMI Standards

SEMI G21 — Specification for Plating Integrated Circuit Leadframes


Member Price: $135.00
Regular price Non-Member Price: $180.00