G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法

SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法 -

Member Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00

Volume(s): Packaging
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
SEMI Standards Copyright Policy/License Agreements

Revision: SEMI G59-94 (Reapproved 0811) - Superseded

Revision

Abstract

本スタンダードは，global Assembly & Packaging Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2011年7月1日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2011年8月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は1994年発行。前版は2002年3月発行。

　

注意: 本文書は，編集上の修正を伴い再承認された。

　

この試験方法は，水分摘出法を用いたリードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物を測定する手順について述べるものである。

　

Referenced SEMI Standards

None.

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