SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 -
Abstract
本スタンダードは,global Assembly & Packaging Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2011年7月1日,global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2011年8月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は1994年発行。前版は2002年3月発行。
注意: 本文書は,編集上の修正を伴い再承認された。
この試験方法は,誘起される電荷の大きさと極性および完全な電荷が散逸されるのに要する時間の測定によって,フィルムおよびシート内の挿間紙材料の静電特性を測定するための手順について述べるものである。
Referenced SEMI Standards
None.
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G06000 - SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法
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