SEMI G80 - 自動試験装置の総合的デジタルタイミング精度を分析するための試験方法

Volume(s): Packaging
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract

本スタンダードは,global Automated Test Equipment Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は20111224日,global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。20126月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は20002月発行。

 

注意: 本文書は,編集上の修正を伴い,再承認された。

 

この手順は,それによって,任意のロジック集積回路(ICATEシステムのACタイミング精度の仕様を構成するパラメータに関して評価できる標準のプロセスを定義する。

 

この手順は,ATE比較の簡略化,仕様のあいまいさの抑制,ユーザ受け入れ手順の簡略化,ATE性能監視の簡略化,およびATEサプライヤへの共通確認基準の提供に適用される。

 

この手順の目的は,デジタル機能テストが可能なすべての半導体自動試験装置(ATE)のタイミング精度仕様を分析することである。本文書の定義に関する節で定義されているように,分析の範囲には,総合的タイミング精度,および総合的タイミング精度の主要な構成要素が含まれる。

 

この手順には,ATEタイミング精度と関連した以下のパラメータの分析は含まれない。

  • 最小ドライバパルス幅
  • コンパレータ帯域幅
  • 入出力往復遅延
  • テスト機器エラー
  • デバイス挿入エラー
  • 時間測定ユニット(TMU)の精度
  • ACタイミング精度を超えたATEの能力または性能。

 

この手順を適用することによって,装置受け入れ時間を短縮することができるため,エンドユーザとATEサプライヤの両者にとって時間の節約となる。

 

Referenced SEMI Standards

SEMI G79 –– Specification for Overall Digital Timing Accuracy

Member Price: $135.00
Regular price Non-Member Price: $180.00