PV00100 - SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関するテスト方法

SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関するテスト方法 -

Member Price: $164.00
Non-Member Price: $215.00

Volume(s): Photovoltaic
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
SEMI Standards Copyright Policy/License Agreements

Revision: SEMI PV1-0211 - Superseded

Revision

Abstract

本スタンダードは，global Photovoltaic Committeeで技術的に承認されている。現版は2010年12月21日，global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。2011年2月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は2009年3月発行，前版は2009年7月発行。

 

このテスト方法はバルクシリコン原料中の微量不純物元素，特にシリコン太陽電池の性能に影響を与えるものの管理に用いることができる。

  1. 太陽電池ウェーハの目標バルク抵抗率に影響を与える故意または偶然に添加されたドーパント濃度

  2. 太陽電池ウェーハの少数キャリアライフタイムを劣化させる金属（例：鉄）やその他の不純物の濃度

 

このテスト方法は単結晶または多結晶シリコンウェーハの製造に用いられるシリコン原料の品質チェックや製品認定に用いることができる。

 

このテスト方法はシリコン原料，単結晶または多結晶シリコン等のシリコンの製造プロセスや製品の研究と開発に用いることができる。

 

このテスト方法は単結晶または多結晶シリコン太陽電池の不良または性能劣化の評価に用いることができる。

 

このテスト方法は購入，販売，または内部管理用に研究や開発支援，製品品質のモニターや認定する際の世界中の分析測定施設共通のプロトコルと測定データを提供するために用いることができる。

 

日常の測定における大部分の元素の検出限界は100 µg/kg （1-100 ppbwt）である。

　

Referenced SEMI Standards

SEMI MF28 — Test Methods for Minority Carrier Lifetime in Bulk Germanium and Silicon by Measurement of Photoconductive Decay
SEMI MF43 — Test Methods for Resistivity of Semiconductor Materials
SEMI MF84 — Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers With an In-Line Four-Point Probe
SEMI MF391 — Test Method of Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Steady-State Surface Photovoltage
SEMI MF397 — Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe
SEMI MF525 — Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using Spreading Resistance Probe
SEMI MF673 — Test Method for Measuring Resistivity of Semiconductor Wafers or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gauge
SEMI MF1389 — Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities
SEMI MF1535 — Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductive Decay by Microwave Reflectance
SEMI MF1630 — Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities
SEMI MF1724 — Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy

Interested in purchasing additional SEMI Standards?

Consider SEMIViews, an online portal with access to over 1000 Standards.

Refund Policy: Due to the nature of our products, SEMI has a no refund/no exchange policy. Please make sure that you have reviewed your order prior to finalizing your purchase. All sales are final.

You May also Like