SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法

Volume(s): Traceability
Language: Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract

本スタンダードは,global Traceability Technical Committeeで技術的に承認されている。現版は2012830日,global Audits and Reviews Subcommitteeにて発行が承認された。20129月にwww.semiviews.orgおよび www.semi.orgで入手可能となる。初版は20017月発行。前版は20073月発行。

 

本スタンダードは,二次元データマトリクスの直接マークの品質を評価する方法を定義することを意図する。

 

本スタンダードは,半導体関連材料に関する二次元データマトリクスコード直接マークに適用する評価基準,計量方法および評価報告手順を定義する。本スタンダードを引用する適用仕様書は,特定アプリケーションの特殊な要求事項に対し, その適用範囲をさらに制限することがある。

 

Referenced SEMI Standards

None.

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