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M06700 - SEMI M67 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry from a Measured Thickness Data Array Using the ESFQR, ESFQD, and ESBIR Metrics
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR,ESFQD,ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M06800 - SEMI M68 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry from a Measured Height Data Array Using a Curvature Metric, ZDD
M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M07000 - SEMI M70 - Test Method for Determining Wafer-Near-Edge Geometry Using Partial Wafer Site Flatness
M07000 - SEMI M70 - パーシャルサイト平坦度を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター(SOI)ウェーハのための仕様
M07100 - SEMI M71 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI
SEMI M71 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M07300 - SEMI M73 - Test Method for Extracting Relevant Characteristics from Measured Wafer Edge Profiles
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
M07400 - SEMI M74 - Specification for 450 mm Diameter Mechanical Handling Polished Wafers
SEMI M74 - Specification for 450 mm Diameter Mechanical Handling Polished Wafers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
M07500 - SEMI M75 - Specification for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers
SEMI M75 - Specification for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
M07700 - SEMI M77 - Test Method for Determining Wafer Near-Edge Geometry Using Roll-Off Amount, ROA
M07700 - SEMI M77 - ロールオフ量(ROA)を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
M07800 - SEMI M78 - Guide for Determining Nanotopography of Unpatterned Silicon Wafers High Volume Manufacturing
M07800 - SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド
M07900 - SEMI M79 - Specification for Round 100 mm Polished Monocrystalline Germanium Wafers for Solar Cell Applications
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
M08000 - SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
M08000 - SEMI M80 - Specification for Front-Opening Shipping Box Used to Transport and Ship 450 mm Wafers