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F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
F06400 - SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法
SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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F01500 - SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
MF053400 - SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers
SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
MF039900 - SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers
SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
MF039800 - SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
MF216600 - SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers
SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
MF172400 - SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
MF170800 - SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies
SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Sale priceMember Price: $171.00
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M08000 - SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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M07800 - SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド
SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド Sale priceMember Price: $171.00
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M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 Regular price$360.00 USD Sale price$224.00 USD
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price$300.00 USD Sale price$187.00 USD
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale price Member Price : $171.00
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 Sale priceMember Price: $171.00
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M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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