Best Selling Products

Filters

Sort by:

1852 products

G08400 - SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol
SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 Regular price$300.00 USD Sale price$231.00 USD
F02100 - SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類
SEMI F21 - 清浄な環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F02900 - SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法
SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price$300.00 USD Sale price$193.00 USD
M05200 - SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M04300 - SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィを報告するためのガイド
SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィを報告するためのガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M03900 - SEMI M39 - Test Method for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Semi-Insulating GaAs Single Crystals
SEMI M39 - Test Method for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Semi-Insulating GaAs Single Crystals Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M03600 - SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers
SEMI M36 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M03200 - SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications
SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M00300 - SEMI M3 - Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates
SEMI M3 - Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M02000 - SEMI M20 - ウェーハ座標システムの確立の作業方法
SEMI M20 - ウェーハ座標システムの確立の作業方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M01800 - SEMI M18 - Format for Silicon Wafer Specification Form for Order Entry
SEMI M18 - Format for Silicon Wafer Specification Form for Order Entry Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M01500 - SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers
SEMI M15 - Polished Wafer Defect Limits Table for Semi-Insulating Gallium Arsenide Wafers Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
MS00800 - SEMI MS8 - Guide to Evaluating Hermeticity of Microelectromechanical Systems (MEMS) Packages
SEMI MS8 - Guide to Evaluating Hermeticity of Microelectromechanical Systems (MEMS) Packages Regular price$300.00 USD Sale price$193.00 USD
MS00300 - SEMI MS3 - Terminology for MEMS Technology
SEMI MS3 - Terminology for MEMS Technology Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
MS01100 - SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions
SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E09900 - SEMI E99 - キャリアIDリーダ／ライタ機能スタンダード：コンセプト，挙動，およびサービスに関する仕様
SEMI E99 - キャリアIDリーダ／ライタ機能スタンダード：コンセプト，挙動，およびサービスに関する仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E09000 - SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様
SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E08200 - SEMI E82 - 工程間／工程内AMHS SEMの仕様（IBSEM）
SEMI E82 - 工程間／工程内AMHS SEMの仕様（IBSEM） Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E06600 - SEMI E66 - マスフローコントローラのパーティクル発生測定のテスト方法
SEMI E66 - マスフローコントローラのパーティクル発生測定のテスト方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E05410 - SEMI E54.10 - in-situパーティクルモニターデバイスのためのセンサ/アクチュエータネットワーク特定デバイスモデルの仕様
SEMI E54.10 - in-situパーティクルモニターデバイスのためのセンサ/アクチュエータネットワーク特定デバイスモデルの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E05400 - SEMI E54 - センサ／アクチュエータネットワークのスタンダード
SEMI E54 - センサ／アクチュエータネットワークのスタンダード Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00