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SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price$300.00 USD Sale price$187.00 USD

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SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale price Member Price : $171.00

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SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Sale priceMember Price: $144.00
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SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上に証明済み手法で付着した単分散標準粒子を用いた走査型表面検査システム較正の作業方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M48 - Guide for Evaluating Chemical-Mechanical Polishing Processes of Films on Unpatterned Silicon Substrates Sale priceMember Price: $144.00
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SEMI M47 - Specification for Silicon-on-Insulator (SOI) Wafers for CMOS LSI Applications Sale priceMember Price: $144.00
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SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様 Sale price Member Price : $171.00

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SEMI M43 - ウェーハナノポトグラフィを報告するためのガイド Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M4 - Specifications for SOS Epitaxial Wafers Sale priceMember Price: $144.00
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SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M39 - Test Method for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Semi-Insulating GaAs Single Crystals Sale priceMember Price: $144.00
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SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 Sale price Member Price : $171.00

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SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のエッチピット密度（EPD）測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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SEMI M37 - Test Method for Measuring Etch Pit Density (EPD) in Low Dislocation Density Indium Phosphide Wafers Sale priceMember Price: $144.00
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