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P00100 - SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板
SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板 Sale priceMember Price: $176.00
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3D01900 - SEMI 3D19 - Test Method for Adhesive Strength of Adhesive Tray Used for Thin Chip Handling
SEMI 3D19 - Test Method for Adhesive Strength of Adhesive Tray Used for Thin Chip Handling Sale priceMember Price: $148.00
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F03400 - SEMI F34 - 液体化学薬品配管ラベリングに関するガイド
SEMI F34 - 液体化学薬品配管ラベリングに関するガイド Sale priceMember Price: $176.00
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F04500 - SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼製異径溶接継手の仕様
SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼製異径溶接継手の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F04400 - SEMI F44 - 機械加工されたステンレス鋼製溶接継手の仕様
SEMI F44 - 機械加工されたステンレス鋼製溶接継手の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F02600 - SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F05600 - SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F06400 - SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法
SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F01500 - SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 Sale priceMember Price: $176.00
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F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド Sale priceMember Price: $176.00
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F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証 Sale priceMember Price: $176.00
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MF039900 - SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers
SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers Sale priceMember Price: $148.00
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MF039800 - SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum Sale priceMember Price: $148.00
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MF216600 - SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers
SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers Sale priceMember Price: $148.00
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MF170800 - SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies
SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies Sale priceMember Price: $148.00
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M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Sale priceMember Price: $176.00
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M08000 - SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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