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C00340 - SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様
SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4），99.997%品質の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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C00339 - SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様
SEMI C3.39 - 三フッ化窒素（NF3）99.98%品質の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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C00327 - SEMI C3.27 - 三フッ化ホウ素（BF3），シリンダ充填， 99.0%品質の仕様
SEMI C3.27 - 三フッ化ホウ素（BF3），シリンダ充填， 99.0%品質の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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C02900 - SEMI C29 - 4.9%フッ化ケイ素酸（10:1 V/V）の仕様とガイドライン
SEMI C29 - 4.9%フッ化ケイ素酸（10:1 V/V）の仕様とガイドライン Sale priceMember Price: $176.00
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C02800 - SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様
SEMI C28 - フッ化ケイ素酸の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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C02500 - SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride)
SEMI C25 - Specification for Dichloromethane (Methylene Chloride) Sale priceMember Price: $148.00
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C02100 - SEMI C21 - 水酸化アンモニウムの仕様とガイドライン
SEMI C21 - 水酸化アンモニウムの仕様とガイドライン Sale priceMember Price: $176.00
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PV00400 - SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications
SEMI PV4 - Specification for Range of 5th Generation Substrate Sizes for Thin Film Photovoltaic Applications Sale priceMember Price: $148.00
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P00800 - SEMI P8 - Test Method for the Determination of Water in Photoresist
SEMI P8 - Test Method for the Determination of Water in Photoresist Sale priceMember Price: $148.00
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P00700 - SEMI P7 - Test Method of Viscosity Determination, Method A - Kinematic Viscosity
SEMI P7 - Test Method of Viscosity Determination, Method A - Kinematic Viscosity Sale priceMember Price: $148.00
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P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク Sale priceMember Price: $176.00
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P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ伝送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ伝送のためのレチクルデータの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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P04100 - SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様
SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中のトレースメタル定量のための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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P03100 - SEMI P31 - Practice for Catalog Publication for Chemical Amplified (CA) Photoresist Parameter
SEMI P31 - Practice for Catalog Publication for Chemical Amplified (CA) Photoresist Parameter Sale priceMember Price: $148.00
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P00300 - SEMI P3 - レジスト付きクロムブランク
SEMI P3 - レジスト付きクロムブランク Sale priceMember Price: $176.00
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P00300 - SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates
SEMI P3 - Specification for Photoresist/E-Beam Resist for Hard Surface Photoplates Sale priceMember Price: $148.00
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P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 Sale priceMember Price: $176.00
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P03000 - SEMI P30 - Practice for Catalog Publication of Critical Dimension Measurement Scanning Electron Microscopes (CD-SEM)
SEMI P30 - Practice for Catalog Publication of Critical Dimension Measurement Scanning Electron Microscopes (CD-SEM) Sale priceMember Price: $148.00
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P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン Sale priceMember Price: $176.00
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P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメータチェックリスト Sale priceMember Price: $176.00
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P02700 - SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate
SEMI P27 - Parameter Checklist for Resist Thickness Measurement on a Substrate Sale priceMember Price: $148.00
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P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感度測定用パラメータチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感度測定用パラメータチェックリスト Sale priceMember Price: $176.00
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