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F04400 - SEMI F44 - 機械加工されたステンレス鋼製溶接継手の仕様
SEMI F44 - 機械加工されたステンレス鋼製溶接継手の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F02600 - SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F26 - グレード10/0.2　有毒特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F05600 - SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法
SEMI F56 - マスフローコントローラの定常供給電圧の影響を測定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラの耐腐食性を求めるための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F07700 - SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学的臨界孔食温度のテスト方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F09800 - SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド
SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド Sale priceMember Price: $176.00
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F06400 - SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法
SEMI F64 - マスフローコントローラの指示および実流量に対する圧力影響を測定する試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコントローラ性能特性を決定する試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F01500 - SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - 筐体の試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 Sale priceMember Price: $176.00
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F03700 - SEMI F37 - ガス供給システム構成部品の表面粗さパラメータの算出方法
SEMI F37 - ガス供給システム構成部品の表面粗さパラメータの算出方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F02900 - SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法
SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法 Sale priceMember Price: $176.00
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F02000 - SEMI F20 - 高純度および超高純度の半導体製造アプリケーションで使用される汎用コンポーネント用の316Lステンレス鋼の棒鋼，鍛造品，押出成形品，鋼板，鋼管の仕様
SEMI F20 - 高純度および超高純度の半導体製造アプリケーションで使用される汎用コンポーネント用の316Lステンレス鋼の棒鋼，鍛造品，押出成形品，鋼板，鋼管の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
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F07900 - SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス配送コンポーネントに使用されるガスのシリコンとの適合性に関するガイド Sale priceMember Price: $176.00
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F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの始動および検証 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
F01500 - SEMI F15 - Test Method for Enclosures Using Sulfur Hexafluoride Tracer Gas and Gas Chromatography
SEMI F15 - Test Method for Enclosures Using Sulfur Hexafluoride Tracer Gas and Gas Chromatography Sale price Member Price : $148.00
MF065700 - SEMI MF657 - Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning
SEMI MF657 - Test Method for Measuring Warp and Total Thickness Variation on Silicon Wafers by Noncontact Scanning Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
MF053400 - SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers
SEMI MF534 - Test Method for Bow of Silicon Wafers Sale priceMember Price: $148.00
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MF039900 - SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers
SEMI MF399 - Test Method for Thickness of Heteroepitaxial or Polysilicon Layers Sale priceMember Price: $148.00
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MF039800 - SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum
SEMI MF398 - Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum Sale priceMember Price: $148.00
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MF216600 - SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers
SEMI MF2166 - Practices for Monitoring Non-Contact Dielectric Characterization Systems Through Use of Special Reference Wafers Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
MF172400 - SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy
SEMI MF1724 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination of Polycrystalline Silicon by Acid Extraction-Atomic Absorption Spectroscopy Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00