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MF172300 - SEMI MF1723 - Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
SEMI MF1723 - Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
MF170800 - SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies
SEMI MF1708 - Practice for Evaluation of Granular Polysilicon by Melter-Zoner Spectroscopies Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M08000 - SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
SEMI M80 - 450 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100 mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07800 - SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド
SEMI M78 - 量産時における130nmから22nm世代のパターンなしシリコンウェーハ上のナノトポグラフィー決定に関するガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mmシリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 Regular price$360.00 USD Sale price$231.00 USD
M07600 - SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers
SEMI M76 - Specification for Developmental 450 mm Diameter Polished Single Crystal Silicon Wafers Regular price$300.00 USD Sale price$193.00 USD
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウムアンチモンスライスの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07400 - SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様
SEMI M74 - 直径450mmメカニカルハンドリング鏡面ウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハエッジプロファイルから直接的関連性ある特性を抽出するテスト方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M06700 - SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M67 - 測定した厚さデータ配列からESFQR，ESFQD，ESBIR METRICS法を使ってウェーハのエッジ近傍形状を決定するための作業方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M00600 - SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells
SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
M05700 - SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様
SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに起因する費用成分の作業法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05500 - SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様
SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05300 - SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上に証明済み手法で付着した単分散標準粒子を用いた走査型表面検査システム較正の作業方法
SEMI M53 - パターンのない半導体ウェーハ表面上に証明済み手法で付着した単分散標準粒子を用いた走査型表面検査システム較正の作業方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05200 - SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm，90nm，65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
M04800 - SEMI M48 - Guide for Evaluating Chemical-Mechanical Polishing Processes of Films on Unpatterned Silicon Substrates
SEMI M48 - Guide for Evaluating Chemical-Mechanical Polishing Processes of Films on Unpatterned Silicon Substrates Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00