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P02100 - SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment
SEMI P21 - Guidelines for Precision and Accuracy Expression for Mask Writing Equipment Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
P01900 - SEMI P19 - Specification for Metrology Pattern Cells for Integrated Circuit Manufacture
P01800 - SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers
SEMI P18 - Specification for Overlay Capabilities of Wafer Steppers Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
G08400 - SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol
SEMI G84 - Specification for Strip Map Protocol Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 Regular price$300.00 USD Sale price$224.00 USD
F04000 - SEMI F40 - 化学試験のための薬液分配部品の準備についての作業方法
F03700 - SEMI F37 - ガス供給システム構成部品の表面粗さパラメータの算出方法
F02900 - SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法
SEMI F29 - ガスソースシステムパネルのパージ効果のテスト方法 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
F02000 - SEMI F20 - 高純度および超高純度の半導体製造アプリケーションで使用される汎用コンポーネント用の316Lステンレス鋼の棒鋼,鍛造品,押出成形品,鋼板,鋼管の仕様
M05200 - SEMI M52 - 130 nm,90nm,65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
M03900 - SEMI M39 - Test Method for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Semi-Insulating GaAs Single Crystals
M03200 - SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications
SEMI M32 - Guide to Statistical Specifications Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M00300 - SEMI M3 - Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates
SEMI M3 - Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
M01300 - SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様
SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
MS01100 - SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions
SEMI MS11 - Specification for Microfluidic Port and Pitch Dimensions Sale priceMember Price: $144.00
Non-Member Price: $187.00
E09900 - SEMI E99 - キャリアIDリーダ/ライタ機能スタンダード:コンセプト,挙動,およびサービスに関する仕様
E06600 - SEMI E66 - マスフローコントローラのパーティクル発生測定のテスト方法
E05410 - SEMI E54.10 - in-situパーティクルモニターデバイスのためのセンサ/アクチュエータネットワーク特定デバイスモデルの仕様
E05400 - SEMI E54 - センサ/アクチュエータネットワークのスタンダード
SEMI E54 - センサ/アクチュエータネットワークのスタンダード Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
E04900 - SEMI E49 - 高純度および超高純度配管システムの性能,サブアセンブリ,最終組立のためのガイド
E03900 - SEMI E39 - オブジェクトサービス・スタンダード:概念,挙動およびサービス
E03500 - SEMI E35 - 半導体製造装置のCOO測定方法の計算ガイド
SEMI E35 - 半導体製造装置のCOO測定方法の計算ガイド Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
E03300 - SEMI E33 - 半導体製造装置の電磁適合性(EMC)のためのガイド
SEMI E33 - 半導体製造装置の電磁適合性(EMC)のためのガイド Sale priceMember Price: $171.00
Non-Member Price: $224.00
E01400 - SEMI E14 - Measurement of Particle Contamination Contributed to the Product from the Process or Support Tool