Latest Standards

Filters

Price
to
Sort by:

187 products

E19900 - SEMI E199 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF) Load Port
SEMI E199 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF) Load Port Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E19700 - SEMI E197 - Specification for Large Tray Stack FOUP (LTSF)
SEMI E197 - Specification for Large Tray Stack FOUP (LTSF) Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E19500 - SEMI E195 - Test Method Using Adhesive Replacement Substrates to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components
E19400 - SEMI E194 - Guide to Using a Liquid Particle Counter to Assess Particulate Surface Contamination on Critical Chamber Components and Coupons
E19300 - SEMI E193 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF)
SEMI E193 - Specification for 300 mm Film Frame FOUP (FFF) Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E13700 - SEMI E137 - 半导体制造设备总装、包装、运输、拆箱和搬运指南
SEMI E137 - 半导体制造设备总装、包装、运输、拆箱和搬运指南 Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E18000 - SEMI E180 - 通过ICP-MS测量半导体晶圆加工过程中关键腔室部件表面金属污染的试验方法
E04400 - SEMI E44 - Guide for Procurment and Acceptance of Minienvironments
SEMI E44 - Guide for Procurment and Acceptance of Minienvironments Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E18500 - SEMI E185 - Specification for 300 mm Tape Frame FOUP
SEMI E185 - Specification for 300 mm Tape Frame FOUP Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E18400 - SEMI E184 - Specification for 300 mm Tape Frame FOUP Load Port
SEMI E184 - Specification for 300 mm Tape Frame FOUP Load Port Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E18600 - SEMI E186 - Specification for Location and Dimensions for Power Connectors and Ethercat Ports in Mass Flow Controllers and Mass Flow Meters
E18200 - SEMI E182 - Specification for Panel FOUP Load Port for Panel Level Packaging
E18100 - SEMI E181 - Specification for Panel FOUP for Panel Level Packaging
E18000 - SEMI E180 - Test Method for Measuring Surface Metal Contamination Through ICP-MS of Critical Chamber Components Used in Semiconductor Wafer Processing
E17700 - SEMI E177 - Specification for Transmission Electron Microscope (TEM) Lamella Carriers Used in Electron Microscopy Workflows
M03100 - SEMI M31 - 300 mmウェーハの搬送および出荷用フロントオープニング・シッピングボックスの機械仕様
E09900 - SEMI E99 - キャリアIDリーダ/ライタ機能スタンダード:コンセプト,挙動,およびサービスに関する仕様
E08500 - SEMI E85 - ベイ間搬送システム用AMHSストッカーの共用性に関する仕様
E08400 - SEMI E84 - 캐리어 핸드오프 병렬 I/O 인터페이스 강화 사양
SEMI E84 - 캐리어 핸드오프 병렬 I/O 인터페이스 강화 사양 Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
E08400 - SEMI E84 - エンハンストキャリア移載パラレルI/Oインタフェースの仕様
E07200 - SEMI E72 - 300 mm装置の床面積,高さ,重量の仕様ならびにガイド
SEMI E72 - 300 mm装置の床面積,高さ,重量の仕様ならびにガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
E06700 - SEMI E67 - マスフローコントローラの信頼性測定のためのテスト方法
E06600 - SEMI E66 - マスフローコントローラのパーティクル発生測定のテスト方法
E05600 - SEMI E56 - 熱マスフローコントローラの精度,直線性,リピータビリティ,短期再現性,ヒステリシス(履歴現象)およびデッドバンドを判断するテスト方法
View All