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SEMI Standards form the foundation for innovation in the microelectronics industry. The SEMI Standards process has been used to create more than 1000 industry approved standards and guidelines, based on the work of more than 5,000 volunteers.

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T01000 - SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法
SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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P00900 - SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジストの機能的なテスト（ガイドライン）
SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジストの機能的なテスト（ガイドライン） Sale priceMember Price: $171.00
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P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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P00700 - SEMI P7 - 粘性決定方法，方法A－動粘度
SEMI P7 - 粘性決定方法，方法A－動粘度 Sale priceMember Price: $171.00
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P00500 - SEMI P5 - ペリクルの仕様
SEMI P5 - ペリクルの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法
SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P04500 - SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様
SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P04400 - SEMI P44 - マスク装置向けオープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OASIS®）の仕様
SEMI P44 - マスク装置向けオープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OASIS®）の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P04000 - SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様
SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P03900 - SEMI P39 - OASISTM – オープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OPEN ARTWORK SYSTEM INTERCHANGE STANDARD）
SEMI P39 - OASISTM – オープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード（OPEN ARTWORK SYSTEM INTERCHANGE STANDARD） Sale priceMember Price: $171.00
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P03700 - SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様
SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P03600 - SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド
SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡（CD-SEM）用倍率標準試料のガイド Sale priceMember Price: $171.00
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P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法 Sale priceMember Price: $171.00
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P03100 - SEMI P31 - 化学増幅型（CA）フォトレジストパラメータのカタログ発行の作業方法
SEMI P31 - 化学増幅型（CA）フォトレジストパラメータのカタログ発行の作業方法 Sale priceMember Price: $171.00
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P02900 - SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様
SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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PV04700 - SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范
SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范 Sale priceMember Price: $144.00
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PV03500 - SEMI PV35 - Specification for Horizontal Communication Between Equipment for Photovoltaic Fabrication System
SEMI PV35 - Specification for Horizontal Communication Between Equipment for Photovoltaic Fabrication System Sale priceMember Price: $144.00
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PV02300 - SEMI PV23 - 結晶シリコン太陽電池（PV）モジュールの輸送環境におけるメカニカル振動試験の方法
SEMI PV23 - 結晶シリコン太陽電池（PV）モジュールの輸送環境におけるメカニカル振動試験の方法 Sale priceMember Price: $171.00
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PV02200 - SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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PV00100 - SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関するテスト方法
SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関するテスト方法 Sale priceMember Price: $171.00
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D00900 - SEMI D9 - FPD基板の用語
SEMI D9 - FPD基板の用語 Sale priceMember Price: $171.00
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D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 Sale priceMember Price: $171.00
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D00600 - SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様
SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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D04600 - SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語
SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語 Sale priceMember Price: $144.00
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D04500 - SEMI D45 - 平面顯示器彩色濾光片所使用，含高阻值之樹脂型黑色矩陣電阻的量測方法
SEMI D45 - 平面顯示器彩色濾光片所使用，含高阻值之樹脂型黑色矩陣電阻的量測方法 Sale priceMember Price: $144.00
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D03900 - SEMI D39 - FPD偏光板用マーカーの仕様
SEMI D39 - FPD偏光板用マーカーの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド Sale priceMember Price: $171.00
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D03400 - SEMI D34 - FPD偏光板の試験方法
SEMI D34 - FPD偏光板の試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義
SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 Sale priceMember Price: $171.00
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D03000 - SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法
SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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D02900 - SEMI D29 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法
SEMI D29 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法 Sale priceMember Price: $144.00
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D02200 - SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法
SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法 Sale priceMember Price: $144.00
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D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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D01300 - SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語
SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語 Sale priceMember Price: $171.00
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G04400 - SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only)
SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only) Sale priceMember Price: $144.00
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G09400 - SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム出荷容器の仕様
SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム出荷容器の仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G06600 - SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法
SEMI G66 - 半導体用プラスチックモールディングコンパウンドの吸湿特性の測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G06000 - SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法
SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法
SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染物の測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G05600 - SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法
SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法 Sale priceMember Price: $171.00
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G03800 - SEMI G38 - 静止空気および強制風冷によるICパッケージのジャンクション部周囲間の熱抵抗の測定法
SEMI G38 - 静止空気および強制風冷によるICパッケージのジャンクション部周囲間の熱抵抗の測定法 Sale priceMember Price: $171.00
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G01800 - SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード
SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用する集積回路用リードフレーム材料のためのスタンダード Sale priceMember Price: $171.00
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G08100 - SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様
SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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G08500 - SEMI G85 - Specification for Map Data Format
SEMI G85 - Specification for Map Data Format Sale priceMember Price: $144.00
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G09200 - SEMI G92 - 450 mmウェーハ用テープフレームカセットの仕様
SEMI G92 - 450 mmウェーハ用テープフレームカセットの仕様 Sale priceMember Price: $171.00
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