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SEMI Standards form the foundation for innovation in the microelectronics industry. The SEMI Standards process has been used to create more than 1000 industry approved standards and guidelines, based on the work of more than 5,000 volunteers.

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G01600 - SEMI G16 - Specification for Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Chip Carrier Tooling
G01400 - SEMI G14 - Guideline for Specifying the Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Molded Dip Package Tooling
T00700 - SEMI T7 - 二次元マトリクスコードシンボルの両面研磨ウェーハ裏面マーキングの仕様
T00600 - SEMI T6 - Procedure and Format for Reporting of Test Results by Electronic Data Interchange (EDI)
T00200 - SEMI T2 - Specification for Marking of Wafers With a Two Dimensional Dot Matrix
SEMI T2 - Specification for Marking of Wafers With a Two Dimensional Dot Matrix Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
T01600 - SEMI T16 - 極紫外線マスク自動識別用データマトリクス記号法適用の仕様
T01500 - SEMI T15 - 治具IDの一般仕様 (コンセプト)
SEMI T15 - 治具IDの一般仕様 (コンセプト) Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
T01400 - SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers
SEMI T14 - Specification for Micro ID on 300 mm Silicon Wafers Sale priceMember Price: $286.00
Non-Member Price: $380.00
T01300 - SEMI T13 - Specification for Device Tracking: Concepts, Behavior, and Services
SEMI T13 - Specification for Device Tracking: Concepts, Behavior, and Services Sale priceMember Price: $286.00
Non-Member Price: $380.00
T01200 - SEMI T12 - Specification for Tracing Jigs and Implements
SEMI T12 - Specification for Tracing Jigs and Implements Sale priceMember Price: $286.00
Non-Member Price: $380.00
T01000 - SEMI T10 - 二次元データマトリクス直接マーク品質を評価する試験方法
P00900 - SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジストの機能的なテスト(ガイドライン)
P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分の測定方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P00700 - SEMI P7 - 粘性決定方法,方法A-動粘度
SEMI P7 - 粘性決定方法,方法A-動粘度 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P00500 - SEMI P5 - ペリクルの仕様
SEMI P5 - ペリクルの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス(Line Edge Roughness)およびライン幅ラフネス(Line Width Roughness)測定の試験方法
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスクのCD計測情報データの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P04500 - SEMI P45 - マスク装置向けジョブデック・データフォーマットの仕様
P04400 - SEMI P44 - マスク装置向けオープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード(OASIS®)の仕様
P04000 - SEMI P40 - 極紫外線リソグラフィマスクの取り付けに関する要求条件およびアライメント基準位置の仕様
P03900 - SEMI P39 - OASISTM – オープン・アートワーク・システム・インターチェンジ・スタンダード(OPEN ARTWORK SYSTEM INTERCHANGE STANDARD)
P03700 - SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様
SEMI P37 - 極紫外線リソグラフィマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P03600 - SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡(CD-SEM)用倍率標準試料のガイド
SEMI P36 - 測長走査型電子顕微鏡(CD-SEM)用倍率標準試料のガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法
SEMI P35 - マイクロリソグラフィメトロロジの用語法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
P03100 - SEMI P31 - 化学増幅型(CA)フォトレジストパラメータのカタログ発行の作業方法
P02900 - SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク(ハーフトーン型位相シフトマスク)およびマスクブランクスに特有な特性の仕様
P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
PV04700 - SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范
SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范 Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
PV03500 - SEMI PV35 - Specification for Horizontal Communication Between Equipment for Photovoltaic Fabrication System
PV02300 - SEMI PV23 - 結晶シリコン太陽電池(PV)モジュールの輸送環境におけるメカニカル振動試験の方法
PV02200 - SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
PV00100 - SEMI PV1 - 高分解能グロー放電質量分析を用いたシリコン太陽電池用シリコン原料中の微量元素測定に関するテスト方法
D00900 - SEMI D9 - FPD基板の用語
SEMI D9 - FPD基板の用語 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D00600 - SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様
SEMI D6 - LCDマスク基板の仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D04600 - SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語
SEMI D46 - 平面顯示器偏光膜的專用術語 Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
D04500 - SEMI D45 - 平面顯示器彩色濾光片所使用,含高阻值之樹脂型黑色矩陣電阻的量測方法
D03900 - SEMI D39 - FPD偏光板用マーカーの仕様
SEMI D39 - FPD偏光板用マーカーの仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D03400 - SEMI D34 - FPD偏光板の試験方法
SEMI D34 - FPD偏光板の試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D03100 - SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位(DSEMU)の定義
SEMI D31 - FPD画質検査における輝度ムラの計量単位(DSEMU)の定義 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D03000 - SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法
SEMI D30 - FPDカラーフィルタの耐光性試験方法 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D02900 - SEMI D29 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法
SEMI D29 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片耐熱性計算之測試法 Sale priceMember Price: $148.00
Non-Member Price: $193.00
D02200 - SEMI D22 - 平面顯示螢幕(FPD)彩色濾光片總成顏色透光度計算之測試法
D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
D01300 - SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語
SEMI D13 - FPD用カラーフィルタの用語 Sale priceMember Price: $176.00
Non-Member Price: $231.00
G04400 - SEMI G44 - Specification for Lead Finishes for Glass to Metal Seal Ceramic Packages (Active Devices Only)
G09400 - SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム出荷容器の仕様
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間の接着強度の測定の試験方法
G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージのジャンクション部とケース間の熱抵抗測定の試験方法